Probing of Nanocontacts Inside a Transmission Electron Microscope
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Springer Berlin Heidelberg
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http://link.springer.com/content/pdf/10.1007/978-3-540-36807-6_5
Reference55 articles.
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Cited by 2 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
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2. In-Situ Biasing TEM;In-Situ Transmission Electron Microscopy;2023
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