Detection of Local Mura Defects in TFT-LCD Using Machine Vision

Author:

Bi Xin,Ding Han

Publisher

Springer Berlin Heidelberg

Reference10 articles.

1. SEMI D41-0305: Measurement method of SEMI Mura in FPD image quality inspection. SEMI 2005 (2005)

2. Lee, J.Y., Yoo, S.I.: Automatic detection of Region-Mura defect in TFT-LCD. IEICE Transactions on Information and Systems E87-D, 2371–2378 (2004)

3. Lecture Notes in Artificial Intelligence;Y.C. Song,2004

4. Lu, C.J., Tsai, D.M.: Automatic defect inspection for LCDs using singular value decomposition. Int. J. Adv. Manuf. Technol. 25, 53–61 (2005)

5. Daugman, J.G.: Two-dimensional spectral analysis of cortical receptive field profile. Vision Research 20, 847–856 (1980)

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