1. R. Waser, R. Dittmann, G. Staikov, K. Szot, Adv. Mater. 21, 2632 (2009)
2. H. Akinaga, Jpn. J. Appl. Phys. 52, 100001 (2013)
3. I. G. Baek, M. S. Lee, S. Seo, M.-J. Lee, D. H. Seo, D.-S. Suh, J. C. Park, S. O. Park, T. I. Kim, I. K. Yoo, U.-I. Chung, and J. T. Moon, IEDM Tech. Dig., 587 (2004)
4. K. Tsunoda, K. Kinoshita, H. Noshiro, Y. Yamazaki, T. Iizuka, Y. Ito, A. Takahashi, A. Okano, Y. Sato, T. Fukano, M. Aoki, and Y. Sugiyama,IEDM Tech. Dig., 767 (2007)
5. Y. Hosoi, Y. Tamai, T. Ohnishi, K. Ishihara, T. Shibuya, Y. Inoue, S. Yamazaki, T. Nakano, S. Ohnishi, N. Awaya, H. Inoue, H. Shima, H. Akinaga, H. Takagi, H. Akoh, and Y. Tokura, IEDM Tech. Dig., 793 (2006)