Quantitative Analysis of HREM Images of α-AlB12 with a High-Voltage Transmission Electron Microscope and the Imaging Plate
Author:
Affiliation:
1. Institute for Advanced Materials Processing, Tohoku University
Publisher
Japan Institute of Metals
Subject
General Engineering
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/matertrans1989/39/9/39_9_903/_pdf
Reference13 articles.
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1. Evaluation of the characteristics of a slow-scan CCD camera for a transmission electron microscope;Journal of Electron Microscopy;1999-01-01
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