Basics of SIMS and TOF-SIMS Application in Inorganic Materials

Author:

Gemma Chika1

Affiliation:

1. IONTOF Japan K.K.

Publisher

Japan Institute of Metals

Subject

General Medicine

Reference22 articles.

1. (1) 吉原一紘,吉武道子:表面分析入門,裳書房,(1997), 105.

2. (2) J. C. Vickerman: J. C. Vickerman and D. Briggs(Eds.): ToF-SIMS, Materials Analysis by Mass Spectrometry 2nd Edition, IM Publications LLP, (2013), 2.

3. (3) 日本表面科学会編:二次イオン質量分析法,丸善,(1999), 11-12.

4. (4) A. Delcorte: J. C. Vickerman and D. Briggs(Eds.): ToF-SIMS, Materials Analysis by Mass Spectrometry 2nd Edition, IM Publications LLP, (2013), 94.

5. (5) CAMEC社website,ダイナミックSIMSによる高感度,元素分析:https://www.cameca.jp/

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