Advances in Characterization of Thick Specimens and Time-Resolved <i>In-situ</i> Observation by Modern High Voltage Electron Microscopy
Author:
Affiliation:
1. Research Center for Ultra-High Voltage Electron Microscopy, Osaka University
Publisher
Japan Institute of Metals
Link
https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia/63/4/63_236/_pdf
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