Investigation for Room Temperature Bonding Using Mechanical Caulking Method with Blind-Via-Hole of FPC and Stud Bump and Blind-Via-Hole

Author:

Yoshimura Yasuhiro1,Aono Takanori1,Sako Akifumi2,Sato Masahiro2,Fukada Makoto2,Tomotsune Hitoyuki1

Affiliation:

1. Research & Development Group, Hitachi, Ltd.

2. Healthcare Business Unit, Hitachi, Ltd.

Publisher

Japan Institute of Electronics Packaging

Subject

Electrical and Electronic Engineering

Reference9 articles.

1. 1) 関 善仁:“FPCにおける実装技術,”エレクトロニクス実装学会誌,Vol. 7, No. 5, pp. 470–473, 2004

2. 2) 畑田賢造:“デバイス実装の最先端設計思想,”エレクトロニクス実装学会誌,Vol. 1, No. 2, pp. 86–90, 1998

3. 3) 三井亮介,佐藤準也,高橋誠哉,中島伸一郎:“プリンタブルデバイスの実装を志向したフィルム型接続信頼性技術の繰り返し曲げ試験における接続信頼性,”Proc. 25th MES, pp. 201–204, 2015

4. 4) 川下道宏,吉村保廣,友常仁之,田中直敬,植松俊英,宮崎忠一,渡辺直也,浅野種正:“Cuバンプを用いたチップ間常温かしめ接続技術の開発,”Proc. 25th MES, pp. 223–226, 2011

5. 5) N. Watanabe, M. Kawashita, Y. Yoshimura, N. Tanaka, and T. Asano: "HIGH-DENSITY ROOM-TEMPERATURE 3D CHIP-STACKING USING MECHANICAL CAULKING WITH COMPLIANT BUMP AND THROUGH-HOLE-ELECTRODE,"InterPACK2009-89274, pp. 33–38, 2009

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