Subject
Electrical and Electronic Engineering,Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference20 articles.
1. Fizeau interferometer for measuring the flatness of optical surfaces;Bunnagel;Appl. Opt.,1968
2. Z;Schönrock;Instrum,1908
3. Absolute Ebenheitsprüfung aus interferentiellen Relativmessungen zwischen 3 Planflächen;Schwider,1966
4. Ein Interferenzverfahren zur absoluten Ebenheitsprüfung längs beliebiger Zentralschnitte;Schulz;Opt. Acta,1967
Cited by
58 articles.
订阅此论文施引文献
订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献