The Conditions to Apply the Phase Corrected Filter to Traced Profiles for Roughness Profiles (2nd Report)

Author:

HARA Seiichiro,TSUKADA Tadao,ITO Masatoshi

Publisher

Japan Society for Precision Engineering

Subject

Mechanical Engineering

Reference11 articles.

1. 2) ISO 4287/1-1984 : Surface roughness-Terminology-Part 1 : Surface and its parameters.

2. 3) D.J.Whitehouse : Handbook of Surface Metrology, Inst. of Physics Pub. London, (1994) 18.

3. 4) ISO/DIS 11562-1993 : Metrological characterization of phase corrected filters and transmission bands for use in contact instruments.

4. 5) ISO/DIS 4287-1-1994 : Surface texture-Part 1, Terms, definitions and parameters of surface texture- Profile method.

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