Multi-attribute and Multi-label Deep Metric Learning via Pair-based and Proxy-based Losses
Author:
Affiliation:
1. Ehime University,Center for Information Technology,Matsuyama,Japan
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10541316/10541349/10541608.pdf?arnumber=10541608
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5. DeepFashion: Powering Robust Clothes Recognition and Retrieval with Rich Annotations
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