A Single-Event Latchup setup for high-precision AMS circuits
Author:
Affiliation:
1. CSIC-Universidad de Sevilla,Instituto de Microlectrónica de Sevilla,Sevilla,Spain,41092
2. Alter TÜV Nord,Sevilla,Spain,41092
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10173930/10173940/10174024.pdf?arnumber=10174024
Reference7 articles.
1. Latchup in CMOS technology
2. A compact model of holding voltage for latch-up in epitaxial CMOS;chen;IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings,1997
3. Latent damage in CMOS devices from single-event latchup
4. Single Event Latchup: Hardening Strategies, Triggering Mechanisms, and Testing Considerations;dodds;Ph D Dissertation,2012
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