SEE and TID Test Results of Radiation Hardened Superjunction P-Channel MOSFETs
Author:
Affiliation:
1. IR HiRel, an Infineon Technologies Company,Andover,MA,USA,01810
2. Blue Origin,El Segundo,CA,USA,90245
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10265810/10265811/10265845.pdf?arnumber=10265845
Reference5 articles.
1. Worst-case test conditions of SEGR for power DMOSFETs;sandra;IEEE Transactions on Nuclear Science,2010
2. Analysis of SEGR in Silicon Planar Gate Super-Junction Power MOSFETs
3. Single-event burnout and avalanche characteristics of power DMOSFETs;sandra;IEEE Transactions on Nuclear Science,2006
4. CoolMOS™ C7: Mastering the Art of Quickness;hancock;Infineon Technologies,0
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