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Single Event Effects Results for COTS Microcontrollers and Microprocessors

  • Published:2023-07 Issue: Volume: Page:
  • ISSN:
  • Container-title:2023 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2023 NSREC)
  • language:
  • Short-container-title:

Author:

Vartanian Sergeh1,Allen Gregory R.1,Irom Farokh1,Daniel Andrew1,Zajac Stephanie1

Affiliation:

1. California Institute of Technology,Jet Propulsion Laboratory,Pasadena,CA,USA,91109

Publisher

IEEE

Reference12 articles.

1. TMS570LS3l37 16- and 32-Bit RISC Flash Microcontroller;TMS570 Datasheet,2012

2. AURIX TC29x B-Step 32-Bit Single-Chip Microcontroller;TC29x user's manual,2014

3. Single-event Effects test Report of the MSP430FR5969-SP;Radiation Report,2019

4. MSP430FR599x, MSP430FR596x Mixed-Signal Microcontrollers;MSP430 DataSheet,2016

5. Blackfin Embedded Processor;ADSP-BF592 datasheet,2013
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