Simulation-Based Analysis and Modeling of Generated Single Event Transient Pulse Width
Author:
Affiliation:
1. IHP – Leibniz-Institut für Innovative Mikroelektronik,Frankfurt (Oder),Germany
Funder
Ministry of Education
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10534343/10534590/10534612.pdf?arnumber=10534612
Reference20 articles.
1. Estimating Single-Event Logic Cross Sections in Advanced Technologies
2. Single Event Transients in Fast Electronic Circuits;Buchner
3. DAMSEL—Dynamic and Applicative Measurement of Single Events in Logic
4. On-Chip Characterization of Single-Event Transient Pulsewidths
5. Characterizing Single Event Transient Pulse Widths in an Open-Source Cell Library Using SPICE;Limbrick
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