Author:
Kish F. A.,Welch D.,Nagarajan R.,Pleumeekers J. L.,Lal V.,Ziari M.,Nilsson A.,Kato M.,Murthy S.,Evans P.,Corzine S. W.,Mitchell M.,Samra P.,Missey M.,DeMars S.,Schneider R. P.,Reffle M. S.,Butrie T.,Rahn J. T.,Van Leeuwen M.,Stewart J. W.,Lambert D. J.,Muthiah R. C.,Tsai H.,Bostak J. S.,Dentai A.,Wu K.,Sun H.,Pavinski D. J.,Zhang J.,Tang J.,McNicol J.,Kuntz M.,Dominic V.,Taylor B. D.,Salvatore R. A.,Fisher M.,Spannagel A.,Strzelecka E.,Studenkov P.,Raburn M.,Williams W.,Christini D.,Thomson K. K.,Agashe S. S.,Malendevich R.,Goldfarb G.,Melle S.,Joyner C.,Kaufman M.,Grubb S. G.
Publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Subject
Electrical and Electronic Engineering,Atomic and Molecular Physics, and Optics