Evaluation of Bipolar Degradation in SiC MOSFETs for Converter Design

Author:

Wu Yifei1,Li Chengxi1,Ran Li1,Cao Qinze1,Gammon Peter1,Feng Hao2,Li Yun3,Ng Chong4,Wu Binbing4

Affiliation:

1. University of Warwick,School of Engineering,Coventry,UK

2. Chongqing University,School of Electrical Engineering,Chongqing,China

3. CRRC Times Electric,Zhuzhou,China

4. Offshore Renewable Energy Catapult,Blyth,UK

Publisher

IEEE

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