Performance Comparison of Convolutional and Transformer Neural Networks in Defect Classification for Industrial Images

Author:

Talib Muhammad Syukri Mohd1,Samsuri Muhammad Hafiz1,Yuen Shang Li1,Lau Phooi Yee1,Wong Chin Wee1,Kamarudin Nur Afiqah1,Hon Hock Woon1

Affiliation:

1. Advanced Intelligence Lab MIMOS Berhad),Kuala Lumpur,Malaysia

Publisher

IEEE

Reference19 articles.

1. Axial attention in multidimensional transformers;Ho;Cornell University),2019

2. NoisyNN: Exploring the Influence of Information Entropy Change in Learning Systems;Yu;Cornell University),2023

3. Benchmarking Deep Learning Frameworks: Design Considerations, Metrics and Beyond

4. Comparison and benchmarking of AI models and frameworks on mobile devices;Luo;Cornell University),2020

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