Efficient Repair Configuration Algorithm, for Improving Yield of Semiconductor Memories
Author:
Affiliation:
1. Arm Inc.,San Jose,CA,USA
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10426790/10427556/10427972.pdf?arnumber=10427972
Reference9 articles.
1. A BISR (Built-in Self Repair) circuit for embedded memory with multiple redundancies;ICVC99
2. An algorithm for row-column self-repair of RAMs and its implementation in the Alpha 21264
3. A clustered failure model for the memory array reconfiguration problem
4. Generation of minimal vertex covers for row/column allocation in self-repairable arrays
5. Logic-based row redundancy technique designed in 7nm FinFET technology for embedded SRAMs
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