Limited magnitude error locating parity check codes for flash memories
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/6276898/6291930/06291949.pdf?arnumber=6291949
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1. Multi-bit Limited Magnitude Error Detection and Correction Codes for MLC Cell Memories;2023 8th International Conference on Communication and Electronics Systems (ICCES);2023-06-01
2. Research of Wafer Level Bonding Process Based on Cu–Sn Eutectic;Micromachines;2020-08-20
3. Social business process management;Business Process Management Journal;2019-10-17
4. Teaching austerity to working-class students: Toward a new ‘common sense’;Capital & Class;2018-06-25
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