Experience Feedback and Probabilistic Graphical Model for Failure Causes Isolation
Author:
Affiliation:
1. Universit de Gabs, Ecole Nationale d'Ingnieurs de Gabs,Laboratoire de Recherche de Modlisation Analyse et Commande des Systmes,Gabs,Tunisie,6029
2. Université de Lorraine, CRAN CNRS UMR 7039,France,54506
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10284032/10284045/10284473.pdf?arnumber=10284473
Reference17 articles.
1. Bayesian Networks and Decision Graphs
2. Retourd, expérience et modèle graphique probabiliste pour l'isolation de défaillances;mechri;12eme congrès international pluridisciplinaire en Qualité Sureté de Fonctionnement et Développement Durable QUALITA'2017,2017
3. Genetic algorithms, numerical optimization, and constraints;michalewicz;6th International Conference on Genetic Algorithms,0
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