Random telegraph noise: Measurement, data analysis, and interpretation
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8052582/8060054/08060057.pdf?arnumber=8060057
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2. ReRAM CiM Fluctuation Pattern Classification by CNN Trained on Artificially Created Dataset;2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS);2023-03
3. Integrated Circuits as Key Enabler for today's Smart MEMS Sensors;ESSCIRC 2022- IEEE 48th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC);2022-09-19
4. The Relevance of Trapped Charge for Leakage and Random Telegraph Noise Phenomena;2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS);2022-03
5. Advanced Data Encryption using 2D Materials;Advanced Materials;2021-05-27
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