Redundancy, repair, and test features of a 90nm embedded SRAM generator

Author:

Aitken R.,Dogra N.,Gandhi D.,Becker S.

Publisher

IEEE Comput. Soc

Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Accelerating RRAM Testing with a Low-cost Computation-in-Memory based DFT;2022 IEEE International Test Conference (ITC);2022-09

2. Test scheduling for built-in self-tested embedded SRAMs with data retention faults;IET Computers & Digital Techniques;2007

3. Fast detection of data retention faults and other SRAM cell open defects;IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems;2006-01

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