Emulating a broadband frequency sweep for Terahertz thin-film imaging
Author:
Affiliation:
1. Technische Universität Darmstadt,Darmstadt,HE,Germany,64283
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9895463/9895465/09895797.pdf?arnumber=9895797
Reference9 articles.
1. Terahertz Multilayer Thickness Measurements: Comparison of Optoelectronic Time and Frequency Domain Systems
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