Faulty Function Extraction for Defective Circuits
Author:
Affiliation:
1. Carnegie Mellon University,Electrical and Computer Engineering Department,Pittsburgh,Pennsylvania
2. Stanford University,Department of Electrical Engineering and Department of Computer Science,Stanford,California
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10567048/10567052/10567760.pdf?arnumber=10567760
Reference17 articles.
1. Silent Data Corruptions at Scale;Dixit
2. Detecting Silent Data Corruptions in the Wild;Dixit,2022
3. Cores that don't count
4. Tiny Chips, Big Headaches;Markoff;The New York Times,2022
5. An experimental chip to evaluate test techniques experiment results
Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. Silent Data Corruption: Test or Reliability Problem?;2024 IEEE European Test Symposium (ETS);2024-05-20
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