Improving Reliability with Dynamic Syndrome Allocation in Intelligent Software Defined Data Centers
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Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/7265894/7266818/07266852.pdf?arnumber=7266852
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2. Classified enhancement model for big data storage reliability based on Boolean satisfiability problem;Cluster Computing;2019-05-11
3. SAT-based Important Data Reliability Enhancement Model for Big Data Storage;Proceedings of the 2018 International Conference on Big Data and Computing;2018-04-28
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