High Resolution Thermal Microscopy
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/10286/32719/01535711.pdf?arnumber=1535711
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1. A Review on Principles and Applications of Scanning Thermal Microscopy (SThM);Advanced Functional Materials;2019-09-02
2. Effect of carbon nanoparticle reinforcement on mechanical and thermal properties of silicon carbide ceramics;Ceramics International;2018-06
3. Fabrication of self-actuated piezoresistive thermal probes;Microelectronic Engineering;2015-09
4. Application of scanning thermal microscopy for investigation of thermal boundaries in multilayered photonic structures;Ultramicroscopy;2013-12
5. Quantitative scanning thermal microscopy based on determination of thermal probe dynamic resistance;Review of Scientific Instruments;2013-09
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