Evaluation of Code Selective Histogram Algorithm For ADC Linearity Test
Author:
Affiliation:
1. Gunma University,Division of Electronics and Informatics,Gunma,Japan,376-8515
2. ROHM Co., Ltd,Yokohama,Japan,222-857
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9954607/9954630/09954832.pdf?arnumber=9954832
Reference10 articles.
1. Nonlinearity Analysis of Resistive Ladder-Based Current-Steering Digital-to-Analog Converter
2. INL and DNL Estimation Based on Noise for ADC Test
3. A Digital Self-Calibration Algorithm for ADCs Based on Histogram Test Using Low-Linearity Input Signals;jin;IEEE ISCAS,2005
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