Deep Learning for Nanoparticle Classification in SEM Micrographs: Systematic Mapping-Reference-Cited by-同舟云学术

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Deep Learning for Nanoparticle Classification in SEM Micrographs: Systematic Mapping

Published:2022-10-19 Issue: Volume: Page:
ISSN:
Container-title:2022 11th International Conference On Software Process Improvement (CIMPS)
language:
Short-container-title:

Author:

Toscano Iker¹,De-la-Torre Miguel²,Juarez Brenda Acevedo³,Garcia Mireles Gabriel Alberto⁴

Affiliation:

1. Centro Universitario de Los Valles,Ameca,México

2. Universidad de Guadalajara,Departamento de Ciencias Computacionales e Ingenierías,México

3. Universidad de Guadalajara,Departamento de Ciencias Computacionales e Ingenierias,México

4. Universidad de Sonora,Departamento de Matemáticas,México

Publisher

IEEE

Link

http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10035564/10035565/10035714.pdf?arnumber=10035714

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