1. Electric Field Controlled Semiconductor Device;kahng;US Patent,1960
2. Ein neues Verfahren zur Messung der Kristallisationsgeschwindigkeit der Metalle;czochralski;Zeitschrift fèur Physikalische Chemie,1917
3. Circuit Elements Utilizing Semiconductor Material;shockley;US Patent,1948
4. Present Status of Transistor Development
5. Present Status of Transistor Development