Improve Volume Physical-Aware Diagnosis via Active Pattern Sampling
Author:
Affiliation:
1. HiSilicon Technologies Co., Ltd.,Shenzhen,China
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10317938/10317940/10317996.pdf?arnumber=10317996
Reference17 articles.
1. Improving the Accuracy of Defect Diagnosis by Considering Fewer Tests
2. A test pattern ordering algorithm for diagnosis with truncated fail data
3. Diagnostic Fail Data Minimization Using an N-Cover Algorithm
4. Improving the Resolution of Multiple Defect Diagnosis by Removing and Selecting Tests
5. Adaptive Test Pattern Reordering for Diagnosis using k-Nearest Neighbors
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