Simulating Charge Collection Efficiency in a CMOS Pixel Array for X-ray detection
Author:
Affiliation:
1. Universidad Nacional de Cuyo,Centro Atómico Bariloche and Instituto Balseiro - Comisión Nacional de Energía Atómica (CNEA) Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas (CONICET),Río Negro,Argentina
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9762473/9762474/09762498.pdf?arnumber=9762498
Reference16 articles.
1. Modeling charge-sharing effects in pixellated CZT detectors
2. Introduction of Synopsys Sentaurus TCAD Simulation
3. On semiconductor MT9M001,2019
4. Physical modeling and analysis of a full-custom, standard-CMOS process photodector
5. Radiation Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: Variation of Epitaxial Layer Thickness
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1. Enhanced high-spatial resolution radiographic images based on COTS CMOS image sensors applied to wood dendrochronology and densitometry;Radiation Measurements;2024-03
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