Ab-initio modeling of magnetic exchange stiffness of complex materials
Author:
Affiliation:
1. Samsung Semiconductor Inc.,San Jose,CA 95134,USA
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10264008/10264009/10264068.pdf?arnumber=10264068
Reference10 articles.
1. The Fe−V (Iron-Vanadium) system
2. Compositional dependence of the magnetic properties of epitaxial FeV/MgO thin films
3. Effect of annealing temperature on exchange stiffness of CoFeB thin films
4. Efficiency of ab-initio total energy calculations for metals and semiconductors using a plane-wave basis set
5. Spin-wave propagation steered by electric field modulated exchange interaction
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