Securing IEEE 1687 Standard On-chip Instrumentation Access Using PUF

Author:

K. Sudeendra Kumar,Satheesh Naini,Mahapatra Abhishek,Sahoo Sauvagya,Mahapatra K. K.

Publisher

IEEE

Cited by 4 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Refreshing the JTAG Family;2023 IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS);2023-04-24

2. PUF Based Cryptographic Key Generation;2022 2nd Asian Conference on Innovation in Technology (ASIANCON);2022-08-26

3. Boundary Scan Security Models using Cryptographic Primitives;2022 6th International Conference on Trends in Electronics and Informatics (ICOEI);2022-04-28

4. Layered Security for IEEE 1687 Using a Bimodal Physically Unclonable Function;Procedia Manufacturing;2018

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