Extraction of bias dependent access resistances of advanced MOSFETs
Author:
Affiliation:
1. Division Microélectronique et Nanotechnologie Centre de Développement des Technologies Avancées (CDTA),Alger,Algérie
2. Université Abou Bekr Belkaid de Tlemcen (UABT),Département de Génie Biomédical,Tlemcen,Algérie
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9961845/9961963/09962089.pdf?arnumber=9962089
Reference26 articles.
1. Efficient small-signal extraction technique for ultrathin body and ultra-thin box FD-SOI transistor;maafri;IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization (NEMO),2015
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