Combining Fast Field Probes with an EMI Detector to reveal Bit Errors induced by ElectroMagnetic Disturbances

Author:

Habib Hasan1,Claeys Tim1,Vogt-Ardatjew Robert2,van den Berg Barbel3,Vandenbosch Guy A. E.4,Pissoort Davy1

Affiliation:

1. KU Leuven Bruges Campus,ESAT-Wave CoRE, M-Group,Bruges,Belgium

2. University of Twente,Faculty of Electrical Engineering,Enschede,Netherlands

3. MST Hospital,Medical Technology,Enschede,Netherlands

4. KU Leuven,WaveCoRE,Leuven,Belgium,3001

Funder

The European Union's Horizon 2020 research and innovation programme

Publisher

IEEE

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