Virtual FA Methodology for DRAM: Real-Time Analysis and Risk Assessment Method Using Telemetry

Author:

Lee Jungchul1,Kwon EC1,Yoon SH1,Oh RG1,Park SY1,Youn SH1,Choi KR1,Kim TW1,Kim MC1,Park JH1,Ko YW1,Kim YD1,Moon JS1,Park HA1,Hong KO1,Yang JY1,Yoon JY1,Yoon JM1,Lee JM1,Kim JH1,Yoo HY1,Kim Sj1,Lee NH1,Lee SH1,Kwon KS1,Jung IG1,Lee YS1,Kim JH1,Pae Sangwoo1

Affiliation:

1. Samsung Electronics, Co., Ltd.,Memory Division,Hwa-seong si,Republic of Korea

Publisher

IEEE

Reference8 articles.

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