Heavy Ion SEU Test Data for 32nm SOI Flip-Flops-Reference-Cited by-同舟云学术

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Heavy Ion SEU Test Data for 32nm SOI Flip-Flops

Published:2015-07 Issue: Volume: Page:
ISSN:
Container-title:2015 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW)
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Author:

Quinn R. C.,Kauppila J. S.,Loveless T. D.,Maharrey J. A.,Rowe J. D.,McCurdy M. W.,Zhang E. X.,Alles M. L.,Bhuva B. L.,Reed R. A.,Holman W. T.,Bounasser M.,Lilja K.,Massengill L. W.

Publisher

IEEE

Link

http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/7336694/7336695/07336712.pdf?arnumber=7336712

Cited by 4 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. SEU Performance of RHBD Flip-Flops Using Guard Gates at 22-nm FDSOI Technology Node;IEEE Transactions on Nuclear Science;2023-08

2. Leto: verifying application-specific hardware fault tolerance with programmable execution models;Proceedings of the ACM on Programming Languages;2018-10-24

3. Manufacturing Solutions;Dependable Multicore Architectures at Nanoscale;2017-08-30

4. Resilience in next-generation embedded systems*;Rugged Embedded Systems;2017

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