Testing and Diagnosing High-Speed Circuits for Military Applications Through Standard Input/Output Ports
Author:
Affiliation:
1. A.T.E. Solutions, Inc.,El Segundo,CA,USA
2. A.T.E. Solutions, Inc.,San Jose,CA,USA
3. A.T.E. Solutions, Inc.,Fort Walton Beach,FL
Funder
NAVAIR
Department of the Navy
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10296172/10296114/10296412.pdf?arnumber=10296412
Reference23 articles.
1. Synthetic Test Systems, The Future of Test – Available Today;rozner;Aeroflex/Metelics,2003
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