1. (2) Ohashi, H.; Senba, Y.; Kishimoto, H.; Miura, T.; Ishiguro, E.; Takeuchi, T.; Oura, M.; Shirasawa, K.; Tanaka, T.; Takeuchi, M.; Takeshita, K.; Goto, S.; Takahashi, S.; Aoyagi, H.; Sano, M.; Furukawa, Y.; Ohata, T.; Matsushita, T.; Ishizawa, Y.; Taniguchi, S.; Asano, Y.; Harada, Y.; Tokushima, T.; Horiba, K.; Kitamura, H.; Ishikawa, T.; Shin, S. AIP Conf. Proc. 2007, 879, 523-526.
2. (4) Nagasaka, M.; Hatsui, T.; Horigome, T.; Hamamura, Y.; Kosugi, N. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2010, 177, 130-134.
3. (5) Bergmann, U.; Wernet, P.; Glatzel, P.; Cavalleri, M.; Pettersson, L. G. M.; Nilsson, A.; Cramer, S. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 092107.
4. (6) Wernet, P.; Nordlund, D.; Bergmann, U.; Cavalleri, M.; Odelius, M.; Ogasawara, H.; Näslund, L.-Å.; Hirsch, T. K.; Ojamäe, L.; Glatzel, P.; Pettersson, L. G. M.; Nilsson, A. Science 2004, 304, 995-999.
5. (8) Tokushima, T.; Horikawa, Y.; Takahashi, O.; Arai, H.; Sadakane, K.; Harada, Y.; Takata, Y.; Shin, S. Phys. Chem. Chem. Phys. 2014, 16, 10753-10761.