1. 1) Y. Kato, R. C. Myers, A. C. Gossard, and D. D. Awschalom: Science, 306, 1910 (2004).
2. 2) J. Wunderlich, B. Kaestner, J. Sinova, and T. Jungwirth: Phys. Rev. Lett., 94, 047204 (2005).
3. 3) K. Garello, C.O. Avci, I. M. Miron, M. Baumgartner, A. Ghosh, S. Auffret, O. Boulle, G. Gaudin, and P. Gambardella: Appl. Phys. Lett., 105, 212402 (2014).
4. 4) K. Garello, F. Yasin, H. Hody, S. Couet, L. Souriau, S.-H. Sharifi, J. Swerts, R. Carpenter, S. Rao, K. Sethu, J. Wu, D. Crotti, A. Furnémont, G.-S. Kar, W. Kim, M. Pak, and N. Jossart: 2019 Symposium on VLSI Technology, JFS4-5 (2019).
5. 5) Q. Hao and G. Xiao: Phys. Rev. Appl., 3, 034009 (2015).