1. 1) J. Slonczewski: J. Magn. Magn, Mater., 159, L1 (1996).
2. 2) L. Berger: Phys. Rev. B, 54, 9353 (1996).
3. 3) H. Ohno, T. Endoh, T. Hanyuu, N. Kasai, and S. Ikeda, in Proceedings of the 2010 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (IEEE 2010), p. 218.
4. 4) S. Matsunaga, J. Hayakawa, S. Ikeda, K. Miura, H. Hasegawa, T. Endoh, H. Ohno, and T. Hanyu: Appl. Phys. Express, 1, 091301 (2008).
5. 5) M. Hosomi, H. Yamagishi, T. Yamamoto, K. Besho, Y. Higo, K. Yamane, H. Yamada, M. Shoji, H. Hachino, C. Fukumoto, H. Nagao, H. Kano: in Proceedings of the 2005 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) (IEEE 2005), p. 459.