Detective Characteristics of a Planar-Type Eddy-Current Testing Probe.
Author:
Publisher
The Magnetics Society of Japan
Subject
Electrical and Electronic Engineering,Condensed Matter Physics,Instrumentation,Electronic, Optical and Magnetic Materials
Reference6 articles.
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Cited by 3 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
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3. Inspecting Printed Wiring by Using the Eddy-Current Testing Approach;Journal of the Magnetics Society of Japan;1997
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