Detective Characteristics of a Planar-Type Eddy-Current Testing Probe.

Author:

Kato M.,Yamada S.,Iwahara M.

Publisher

The Magnetics Society of Japan

Subject

Electrical and Electronic Engineering,Condensed Matter Physics,Instrumentation,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference6 articles.

1. 1) 日本非破壊検査協会編: 非破壊検査便覧第 V 編 (日刊工業新聞社, 1970).

2. 2) 荒 克之, 海老根典也, 竹内信次郎, 原 邦彦: 電気学会マグネティックス研究会資料, MAG-94-111 (1994).

3. 3) 山田外史, 加藤正樹, 岩原正吉, F. Dawson: 電気学会マグネティックス研究会資料, MAG-94-226 (1994).

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