不同偏置条件下CMOS图像传感器质子辐照损伤效应的实验与分析-Reference-Cited by-同舟云学术

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不同偏置条件下CMOS图像传感器质子辐照损伤效应的实验与分析

Published:2023 Issue:19 Volume:43 Page:1928001
ISSN:0253-2239
Container-title:Acta Optica Sinica
language:en
Short-container-title:光学学报

Author:

Nie Xu 聂栩,Wang Zujun 王祖军,Wang Baichuan 王百川,Xue Yuanyuan 薛院院,Huang Gang 黄港,Lai Shankun 赖善坤,Tang Ning 唐宁,Wang Maocheng 王茂成,Zhao Mingtong 赵铭彤,Yang Fuyu 杨馥羽,Wang Zhongming 王忠明

Publisher

Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics

Subject

Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference37 articles.

1. CCD与CMOS图像传感器的现状及发展趋势;马精格;电子技术与软件工程,2017

2. Current situation and development trend of CCD and CMOS image sensors;J G Ma;Electronic Technology & Software Engineering,2017

3. The camera on the mars 2020 mission perseverance rover;Science NASA,0

4. CMOS图像传感器在航天遥感中的应用;王军;航天返回与遥感,2008

5. The application of CMOS image sensor in space remote sensing;G H Li;Spacecraft Recovery & Remote Sensing,2008

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. 质子辐照对CMOS图像传感器传输栅损伤效应的实验与分析;Acta Optica Sinica;2024

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