基于单幅散斑的X射线强度关联缺陷检测方法-Reference-Cited by-同舟云学术

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基于单幅散斑的X射线强度关联缺陷检测方法

Published:2023 Issue:10 Volume:43 Page:1034001
ISSN:0253-2239
Container-title:Acta Optica Sinica
language:en
Short-container-title:光学学报

Author:

Yang Hairui 杨海瑞,Tan Zhijie 谈志杰,Yu Hong 喻虹,Pan Xuejuan 潘雪娟,Han Shensheng 韩申生

Publisher

Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics

Subject

Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference33 articles.

1. On a new kind of rays;W C Rroentgen;Science,1896

2. Gold nanoparticle internal structure and symmetry probed by unified small-angle X-ray scattering and X-ray diffraction coupled with molecular dynamics analysis;R Cortes-Huerto;Nano Letters,2015

3. Longitudinal unzipping of carbon nanotubes to form graphene nanoribbons;D V Kosynkin;Nature,2009

4. X射线晶体衍射谱仪理论及应用;姚童;光学学报,2022

5. X-ray crystal diffraction spectrometer: theory and application;X Wang;Acta Optica Sinica,2022

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献

1. 小角X射线散射中宇宙线噪声去除方法;Acta Optica Sinica;2024

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