Author:
Han Jinghao 韩景灏,Jia Mengyu 贾梦宇,Zhou Zhongxing 周仲兴,Gao Feng 高峰
Publisher
Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics
Cited by
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1. X射线纳米分辨立体成像及其在芯片表征中的应用;Acta Optica Sinica;2024