不同能量质子辐照诱发CCD图像传感器性能退化实验与分析-Reference-Cited by-同舟云学术

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不同能量质子辐照诱发CCD图像传感器性能退化实验与分析

Published:2023 Issue:11 Volume:43 Page:1123001
ISSN:0253-2239
Container-title:Acta Optica Sinica
language:en
Short-container-title:光学学报

Author:

Huang Gang 黄港,Wang Zujun 王祖军,Wei Lü 吕伟,Nie Xu 聂栩,Lai Shankun 赖善坤,Yan Shixing 晏石兴,Wang Minwen 王敏文,Zhuo Xin 卓鑫,Yu Junying 于俊英,Wang Zhongming 王忠明

Publisher

Shanghai Institute of Optics and Fine Mechanics

Subject

Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference44 articles.

1. Abroad development status of CCD image sensors usedin secondary planet;K Zhang;Journal of China Academy of Electronics and Information Technology,2007

2. 国外星用CCD图像传感器的研制现状;张坤;中国电子科学研究院学报,2007

3. CCD位移辐射效应损伤机理分析;王祖军;半导体光电,2010

4. Analysis of the displacement damage mechanism of radiation effects in CCD;S Y Huang;Semiconductor Optoelectronics,2010

5. The analysis of mechanism on ionization radiation damage effects on CCD;B Q Tang;Nuclear Electronics & Detection Technology,2009

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