Analytical Characterization of Functional Materials using Cryo-FIB/SEM and Aberration-corrected Cryo-STEM
Author:
Affiliation:
1. Department of Physics, University of Illinois at Chicago , Chicago, Illinois , United States
Publisher
Oxford University Press (OUP)
Subject
Instrumentation
Link
https://academic.oup.com/mam/article-pdf/29/Supplement_1/1702/50934751/ozad067.877.pdf
Reference3 articles.
1. Two-Dimensional Nanocrystals Produced by Exfoliation of Ti3AlC2
2. Atomic-resolution in-situ cooling study of oxygen vacancy ordering in La0.5Sr0.5CoO3−δ thin films
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