Physics-Based Scan Distortion Correction in Hardware
Author:
Affiliation:
1. Direct Electron LP , San Diego, CA , USA
Publisher
Oxford University Press (OUP)
Link
https://academic.oup.com/mam/article-pdf/30/Supplement_1/ozae044.1088/58668820/ozae044.1088.pdf
Reference11 articles.
1. CDrift: An Algorithm to Correct Linear Drift From A Single High-Resolution STEM Image
2. Atomic resolution enabled STEM imaging of nanocrystals at cryogenic temperature
3. High temporal-resolution scanning transmission electron microscopy using sparse-serpentine scan pathways
4. Using Your Beam Efficiently: Reducing Electron Dose in the STEM via Flyback Compensation
5. Subsampled STEM-ptychography
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