1. Li, W., Sandner, M., Gesierich, A., and Burke, J.: Absolute optical surface measurement with deflectometry, in: Proc. SPIE 8494, Interferometry XVI: Applications, 84940G, 13 September, 2012.
2. Petz, M.: Rasterreflexions-Photogrammetrie – Ein neues Verfahren zur geometrischen Messung spiegelnder Oberflächen. Dissertation, Technische Universität Braunschweig, 2006, Schriftenreihe des Instituts für Produktionsmesstechnik, Band 1, Aachen, Shaker, ISBN 3-8322-4944-3, 2006.
3. Petz, M. and Ritter, R.: Reflection grating method for 3D measurement of reflecting surfaces, in: Proc. SPIE Vol. 4399 (2001) – Optical Measurement for Industrial Inspection II: Applications in Production Engineering, edited by: Höfling, R., Jüptner, W., and Kujawinska, M., 35–41, 2011.
4. Petz, M. and Tutsch, R.: Rasterreflexions-Photogrammetrie zur Messung spiegelnder Oberflächen, tm – Technisches Messen, Heft 71, 389–397, 2004.
5. Tutsch, R., Petz, M., and Fischer, M.: Optical three-dimensional metrology with structured illumination, Opt. Eng., 50, 101507–101507-10, 2011.