STRUCTURE DES JOINTS EN MICROSCOPIE ELECTRONIQUE HAUTE RESOLUTION (MEHR)
Author:
Publisher
EDP Sciences
Subject
General Engineering
Link
http://jphyscol.journaldephysique.org/10.1051/jphyscol:1982609/pdf
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1. Atomic structures of Si and Ge Σ = 13 [0 0 1] tilt grain boundaries studied by high-resolution electron microscopy and atomistic simulations;Philosophical Magazine;2013-04
2. gS = 99 and Σ = 41 Grain boundaries;Acta Metallurgica;1988-10
3. Secondary dislocations in [011] tilt boundaries in germanium;Philosophical Magazine A;1988-03
4. EBIC and conductance measurements in poly- and bicrystalline silicon;Revue de Physique Appliquée;1987
5. Origine structurale et chimique de l'activité électrique des joints de grains dans le silicium;Revue de Physique Appliquée;1987
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